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产品详情

1/1
浏览量:
1003

半导体检测机

产品用途： 半导体IR隐崩检查机，可穿透硅晶圆(Silicon Wafer)，进行隐崩检测。
浏览量:
1003
产品编号
DSI-2000
所属分类
冲孔机及验孔机系列
数量
-
+
1
产品描述

随着半导体(Semiconductor)的制程越来越精细，晶圆(Wafer)越做越薄，晶圆级封装所面临的质量挑战越来越大， 拥有专利的IR隐崩检测机，可穿透硅晶圆(Silicon Wafer)，帮助客户确认IC是否有背崩、隐裂及隐崩的问题，并可搭载全自动上下料系统及自动判断软件，进行有效的质量管控。

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高精度验孔机
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